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當(dāng)前位置:首頁  >  技術(shù)文章

  • 2022

    4-12

    日本電子電鏡是一種用途廣泛的多功能儀器,具有很多*的性能,重要特點(diǎn)是景深大,圖像富立體感,具有三維形態(tài)。它可以進(jìn)行三維形貌的觀察和分析,當(dāng)然,還可以進(jìn)行微區(qū)的成分分析等其他方面的應(yīng)用。表面分析是指對(duì)材料的表面特性和表面現(xiàn)象進(jìn)行觀察分析、測(cè)量的方法和技術(shù),是掃描電鏡基本、普遍的用途。通常用二次電子成像,來觀察樣品表面的微觀結(jié)構(gòu)、化學(xué)組成等情況。原子序數(shù)襯度是利用對(duì)樣品表層微區(qū)原子序數(shù)或化學(xué)成分變化敏感的物理信號(hào),如背散射電子、吸收電子等作為調(diào)制信號(hào)而形成的一種能反映微區(qū)化學(xué)成分...

  • 2022

    3-4

    臺(tái)式電鏡SEM是一個(gè)相對(duì)年輕且發(fā)展迅速的產(chǎn)品。其實(shí)許多應(yīng)用領(lǐng)域并不需要使用低于1nm的高分辨率掃描電鏡(SEM),10nm的分辨率是綽綽有余的。然而,由于材料特征點(diǎn)尺寸越來越小和觀測(cè)需求的增加,而且它的放大倍數(shù)可高達(dá)130,000倍。此類新型儀器的出現(xiàn)*光學(xué)顯微鏡與傳統(tǒng)大型掃描電子顯微鏡之間的空白區(qū)域,可廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米顆粒、生物醫(yī)學(xué)、食品藥品、紡織纖維、地質(zhì)科學(xué)等諸多領(lǐng)域。臺(tái)式電鏡SEM的樣品制備方法:1.佩戴無粉手套,使用鑷子把丁型樣品臺(tái)放置在制樣臺(tái)上(嚴(yán)禁在樣品...

  • 2022

    2-16

    在材料領(lǐng)域中,普通掃描電鏡技術(shù)發(fā)揮著重要的作用,被廣泛應(yīng)用于各種材料的形態(tài)結(jié)構(gòu)、界面狀況、損傷機(jī)制及材料性能預(yù)測(cè)等方面的研究。利用掃描電鏡可以直接研究晶體缺陷及其生產(chǎn)過程,可以觀察金屬材料內(nèi)部原子的集結(jié)方式和它們的真實(shí)邊界,也可以觀察在不同條件下邊界移動(dòng)的方式,還可以檢查晶體在表面機(jī)械加工中引起的損傷和輻射損傷等。普通掃描電鏡(ScanningElectronMicroscope),簡(jiǎn)寫為SEM,是一個(gè)復(fù)雜的系統(tǒng),濃縮了電子光學(xué)技術(shù)、真空技術(shù)、精細(xì)機(jī)械結(jié)構(gòu)以及現(xiàn)代計(jì)算機(jī)控制技...

  • 2022

    1-21

    電子源發(fā)射的電子束經(jīng)過電磁透鏡的電子光學(xué)通路聚焦,電子源的直徑被縮小到納米尺度的電子束斑,與顯示器掃描同步的電子光學(xué)鏡筒中的掃描線圈控制電子束,在樣品表面一定微小區(qū)域內(nèi),逐點(diǎn)逐行掃描。電子束與樣品相互作用,從樣品中發(fā)射的具有成像反差的信號(hào),臺(tái)式掃描電子顯微鏡由一個(gè)適當(dāng)?shù)膱D像探測(cè)器逐點(diǎn)收集,并將信號(hào)經(jīng)過前置放大器和視頻放大器,用調(diào)制解調(diào)電路調(diào)制顯示器上相對(duì)應(yīng)顯示像素的亮度,形成我們?nèi)祟愑^察習(xí)慣的,反映樣品二維形貌的圖像或者其他可以理解的反差機(jī)制圖像。由于圖像顯示器的像素尺寸遠(yuǎn)遠(yuǎn)...

  • 2022

    1-17

    高溫環(huán)境XRD即X-raydiffraction,通過對(duì)材料進(jìn)行X射線衍射,分析其衍射圖譜,獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。X射線是一種波長很短(約為20~0.06nm)的電磁波,能穿透一定厚度的物質(zhì),并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相乳膠感光、氣體電離。在用電子束轟擊金屬“靶”產(chǎn)生的X射線中,包含與靶中各種元素對(duì)應(yīng)的具有特定波長的X射線,稱為特征(或標(biāo)識(shí))X射線。x射線是一種具有較短波長的高能電磁波,由原子內(nèi)層軌道中電子躍遷或高能電子減速所產(chǎn)生。X射線...

  • 2021

    12-28

    巖礦分析,顧名思義,就是應(yīng)用各種礦物學(xué)原理與方法,通過礦物的光、電、聲、熱、磁、重、硬度、氣味等以及其主要的化學(xué)成分特征,對(duì)巖石、礦物樣品、包括光(?。┢?、砂片、碎屑、粉未進(jìn)行觀察、鑒定以區(qū)別其他礦物類別,以及研究巖石、礦石的主要礦物組成、礦物成生序列,結(jié)構(gòu)、構(gòu)造、巖(礦)石類型的技術(shù)方法。現(xiàn)代地球物理學(xué)是將數(shù)學(xué)、物理、計(jì)算機(jī)與傳統(tǒng)地學(xué)緊密結(jié)合的學(xué)科;是利用高精度測(cè)量儀器探測(cè)地球內(nèi)部結(jié)構(gòu)、動(dòng)力和演化,進(jìn)行資源勘查與開發(fā)利用、地質(zhì)災(zāi)害預(yù)測(cè)和防治、工程勘測(cè)、生態(tài)環(huán)境保護(hù)以及污染監(jiān)...

  • 2021

    12-20

    普通掃描電鏡是一種利用電子進(jìn)行成像的顯微鏡,由英文ScanningElectronMicroscope直譯得名,簡(jiǎn)稱為掃描電鏡。由于電子的德布羅意波長遠(yuǎn)小于可見光的波長,掃描電鏡具有比光學(xué)顯微鏡高得多圖像分辨率,使我們擁有在亞原子尺度上觀察微觀世界的能力。掃描電鏡噴金幾乎可以對(duì)所有類型的樣本進(jìn)行圖像處理,陶瓷、金屬、合金、半導(dǎo)體、聚合物、生物樣品等。然而,某些特定類型的樣品更具有挑戰(zhàn)性,并且需要操作者進(jìn)行額外的樣品制備,以便借助掃描電鏡噴金收集高質(zhì)量圖片。這些額外的步驟包括在...

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